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菲希尔-X-RAY膜厚测量仪是结合了测量镀层厚度及物料分析双功能在一整体的设计，此仪器是采用能量散射X-射线萤光测量原理，符合国际标准来进行非破坏及不接触的测量,除了可以测量镀层厚度外，还可以计算合金中各种元素的含量,至于需要测量电镀槽内的金离子停含量的浓度也是十分简单。
菲希尔-X-RAY膜厚测量仪采用的测量法特点有以下几种：
1、不需要先对样品进行处理便能测量。样品可以直接放入测量室进行测量，不需特别处理样品。
2、不需要复杂、昂贵的仪器来抽真空，便能在正常的环境下测量从元素Z＝13（铝）至U＝92（铀）
3、固体、浆状及液体的样本也可以测量。即使是极小不规则的测量面积也可快速，免接触的测量。
菲希尔-X-RAY膜厚测量仪可应用于治金学、地质学、鉴证学或自然科学等，在工业方面，广泛用于五金电镀、电子半导体、PCB线路、首饰珠宝、卫浴、汽配的成份分析和镀层测量方面。
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